晶圆金属薄膜量测设备

UltraFilm F5 全自动金属介质薄膜量测系统

UltraFilm F5全自动金属介质薄膜检测系统，使用特殊的激光光热技术，兼具非接触、非破坏、非侵入、非辐射、快速和可重复性等优势特征。能够对任何涂层材料的厚度进行快速、非接触、非破坏性的检测。

金属及涂层厚度检测具有广泛的应用

快速单层金属厚度经济型解决方案

功能特点

无惧材质限制，满足多样化测量需求

沉积在所有基材上多种涂层材料的厚度量测

不受检测对象表面状态影响（曲率、形状、边缘、表面结构）

干燥、潮湿或未固化涂层的均可量测

对检测样品温度（冷热）的高耐受性