SEAL系列光谱椭偏仪通过椭偏参数、透射/反射等参数测量，实现各种单层到多层的各向同性/各向异性薄膜膜厚、折射率（n）、消光系数（k）及介电函数（ε1, ε2）快速表征。覆盖193-1700nm波长范围，涵盖深紫外、可见及近红外光谱。  其高精度、高效率的测量能力，使其广泛应用于半导体制造、光学镀膜、新能源材料等领域。