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SpectraFilm S10 膜厚测量仪

SpectraFilm S10可实现各种介质保护膜、半导体薄膜、玻璃镀膜等膜厚快速表征。用户可以在200-2500 nm光谱范围内进行薄膜厚度，反射率、透过率、n/k等参数表征。

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