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Eplec-R&RC 方阻测试仪

在金属膜均匀性分布、离子掺杂和注入表征、薄膜厚度和电阻率分布、以及非接触膜厚测量上都可有效表征

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Eplec-R&RC 方阻测试仪

电阻测量技术创新的桌面型解决方案

全自动扫描 高精度测量 超宽测量范围 纳米级薄膜

Eplec-R/RC 

 

Eplec-R/RC 电阻率测试仪采用接触式四探针(4PP)和非接触式电涡流(EC)配置,在金属膜均匀性分布、离子掺杂和注入表征、薄膜厚度和电阻率分布、以及非接触膜厚测量上都可有效表征。

 

 

产品优势

 

卓越的测量性能

 

极广的样品与工艺兼容性

 

测量数据分析与可视化

 

精准、灵活的自动化平台

 

简洁高效的用户体验

 

拥有生产集成能力,满足量产需要

 

选配加热模组,优化离子注入工艺

 

 

应用场景

 

晶圆加工

金属化层、晶圆掺杂变化、衬底表征、离子注入变化分布、激光退火表征

 

 

技术

金属沉积、柔性衬底表征、薄膜diandaolv变化分布、激光退火表征

 

 

研发及其他应用

柔性薄膜电阻率、过滤网、多层薄膜表征、金属薄膜、可穿戴设备、可充电电池

 

Eplec-R&RC 方阻测试仪