UltraShape S7m
UltraShape S7m 用于表面微观形貌分析和粗糙度质量评价。
应用场景贯穿全流程样品适应性广表面微观测量分析粗糙度质量评价
从产品研发到质量控制,UltraShape S7m全自动微观形貌量测系统可以用于对从超光滑镜面到粗糙面的各种样品进行表面微观测量分析和粗糙度质量评价。
产品优势
非接触式3D表面形貌测量系统 兼容ISO-4217、ISO-25178,可测粗糙度与3D形貌 全域表面微观形貌检测,覆盖镜面至粗糙面
应用场景
半导体晶圆制造
先进封装制造
半导体量产制造

