UltraElectric R2

UltraElectric R2系统基于涡流法测试技术，可实现对纳米级薄膜电阻率、方阻等核心电学参数的无损精准测量

UltraElectric R2系统基于涡流法测试技术，可实现对纳米级薄膜电阻率、方阻等核心电学参数的无损精准测量，满足从实验室级材料研究到量产线工艺监控的全场景需求。